EDP : Jean-Claude Vivalda (Institut Élie Cartan de Lorraine) : Systèmes échantillonnés et généricité de l’observabilité

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EDP : Jean-Claude Vivalda (Institut Élie Cartan de Lorraine) : Systèmes échantillonnés et généricité de l’observabilité

18 octobre 2018 / 14:00 - 15:00

Depuis les travaux de Jean-Paul Gauthier et Ivan Kupka, on sait que l’observabilité d’un système est une propriété générique pourvu que le nombre de sorties de ce système est strictement supérieur au nombre d’entrées. On s’intéresse ici à la question suivante : on se fixe un pas d’échantillonnage $T$ et on considère le discrétisé en temps d’un système continu $\dot x = f(x,u)\ y = h(x)$. On montre que l’ensemble des couples $(f,h)$ tels que le discrétisé du système continu est observable forme un ensemble partout dense pourvu que le nombre de sorties soit supérieur ou égal au nombre d’entrées plus deux.

EDP : Jean-Claude Vivalda (Institut Élie Cartan de Lorraine) : Systèmes échantillonnés et généricité de l’observabilité

Détails

Date :
18 octobre 2018
Heure :
14:00 - 15:00
Catégorie d’évènement:

Lieu

Organisateurs

Pierre Gabriel
Tahar Boulezaoud